https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106112
Contributeur : Christine Carvalho de Matos
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Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:23:14
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction. VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446, 2005. 〈lirmm-00106112〉