Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106112

Soumis le : vendredi 13 octobre 2006-10:23:14

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00106112 , version 1 (13-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106112 , version 1

Citer

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction. VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446. ⟨lirmm-00106112⟩

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