Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction

Nabil Badereddine 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 Christian Landrault 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446, 2005
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106112
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:23:14
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106112, version 1

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Citation

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction. VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446, 2005. 〈lirmm-00106112〉

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