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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction
Nabil Badereddine
1
Patrick Girard
1
Serge Pravossoudovitch
1
Arnaud Virazel
1
Christian Landrault
1
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Nabil Badereddine 1
Author
Patrick Girard 1
Author IdHAL : patrick-girard-lirmm
Serge Pravossoudovitch 1
Author
Arnaud Virazel 1
Author IdHAL : arnaud-virazel IdRef : https://www.idref.fr/068454724 ISNI : http://isni.org/isni/0000000139422532
Christian Landrault 1
Author
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106112
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Friday, October 13, 2006 - 10:23:14 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Friday, October 13, 2006 - 10:23:14 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00106112, version 1
Citation
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction. VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, Oct 2005, Perth, Australia. pp.441-446. ⟨lirmm-00106112⟩
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