Communication Dans Un Congrès
Année : 2005
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106513
Soumis le : lundi 16 octobre 2006-08:38:39
Dernière modification le : mercredi 13 août 2025-03:11:49
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00106513 , version 1
Citer
Arnaud Regnier, Jean-Michel Portal, Rachid Bouchakour, Michel Renovell. Modeling Halo Implant Failures in MOS Sub-Micron Technology. LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2005, Salvador, Bahia, Brazil. pp.29-33. ⟨lirmm-00106513⟩
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