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Conference papers

Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série

Nabil Badereddine 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 Christian Landrault 1 
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106528
Contributor : Christine Carvalho De Matos Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Monday, October 16, 2006 - 8:38:44 AM
Last modification on : Friday, August 5, 2022 - 10:48:03 AM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00106528, version 1

Collections

Citation

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série. JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. ⟨lirmm-00106528⟩

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