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Conference papers
Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série
Nabil Badereddine
1
Patrick Girard
1
Serge Pravossoudovitch
1
Arnaud Virazel
1
Christian Landrault
1
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Nabil Badereddine 1
Author
Patrick Girard 1
Author IdHAL : patrick-girard-lirmm
Serge Pravossoudovitch 1
Author
Arnaud Virazel 1
Author IdHAL : arnaud-virazel IdRef : https://www.idref.fr/068454724 ISNI : http://isni.org/isni/0000000139422532
Christian Landrault 1
Author
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106528
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Monday, October 16, 2006 - 8:38:44 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Monday, October 16, 2006 - 8:38:44 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00106528, version 1
Citation
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série. JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. ⟨lirmm-00106528⟩
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