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Contributeur : Christine Carvalho de Matos
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Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:38:44
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02
Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série. JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. 2005. 〈lirmm-00106528〉