Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série

Nabil Badereddine 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 Christian Landrault 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:38:44
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106528, version 1

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Citation

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Analyse et Réduction de la Puissance de Pic durant le Test Série. JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. 2005. 〈lirmm-00106528〉

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