On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00108651 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108651 , version 1

Citer

Norbert Dumas, Florence Azaïs, Laurent Latorre, Pascal Nouet. On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing. LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Spain. pp.118-122. ⟨lirmm-00108651⟩
37 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More