On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing

Norbert Dumas 1 Florence Azaïs 1 Laurent Latorre 1 Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Spain. pp.118-122, 2004
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108651
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 08:52:38
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108651, version 1

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Citation

Norbert Dumas, Florence Azaïs, Laurent Latorre, Pascal Nouet. On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing. LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Spain. pp.118-122, 2004. 〈lirmm-00108651〉

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