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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror
S. Bernardini
P. Masson
Jean-Michel Portal
1
Jean-Marc Galliere
2
Michel Renovell
3
3
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
S. Bernardini
Author IdHAL : sandrine-bernardini ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/D-3185-2012 ORCID : https://orcid.org/0000-0001-9673-222X
P. Masson
Author
Jean-Michel Portal 1
Author IdHAL : jean-michel-portal
Jean-Marc J.-M. Galliere 2
Author Employer institution : Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier IdHAL : jean-marc-galliere ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8753-3392
Michel Renovell 3
Author IdHAL : michel-renovell ORCID : https://orcid.org/0000-0002-3896-8231
1
L2MP - Laboratoire matériaux et microélectronique de Provence (Case 142 Av. Escadrille Normandie-Niemen 13397 MARSEILLE CEDEX 20 - France)
- Université Paul Cézanne - Aix-Marseille 3 (3, avenue Robert Schumann - 13628 Aix-en-Provence cedex 1 - France)
- Université de Provence - Aix-Marseille 1 (3, place Victor Hugo - 13331 Marseille Cedex 03 - France)
- UTLN - Université de Toulon (Avenue de l'Université - BP 20132 - 83957 La Garde Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6137 (France)
2
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108659
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Monday, October 23, 2006 - 8:52:41 AM
Last modification on : Thursday, December 3, 2020 - 3:09:50 AM
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Monday, October 23, 2006 - 8:52:41 AM
Last modification on : Thursday, December 3, 2020 - 3:09:50 AM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00108659, version 1
Citation
S. Bernardini, P. Masson, Jean-Michel Portal, Jean-Marc Galliere, Michel Renovell. Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror. LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Spain. pp.12-17. ⟨lirmm-00108659⟩
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