Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror

S. Bernardini P. Masson J.M. Portal 1 Jean-Marc Galliere 1 Michel Renovell 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, pp.12-17, 2004
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108659
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 08:52:41
Dernière modification le : jeudi 22 février 2018 - 16:50:03

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108659, version 1

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SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

S. Bernardini, P. Masson, J.M. Portal, Jean-Marc Galliere, Michel Renovell. Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror. LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, pp.12-17, 2004. 〈lirmm-00108659〉

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