Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

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Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror

, , (1) , (2) , (3)

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S. Bernardini

Fonction : Auteur
PersonId : 11271
IdHAL : sandrine-bernardini
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IdRef : 084553219

P. Masson

Fonction : Auteur

Jean-Michel Portal

Fonction : Auteur
PersonId : 20388
IdHAL : jean-michel-portal
ORCID : 0000-0002-6722-053X
IdRef : 102048045

Laboratoire matériaux et microélectronique de Provence

Jean-Marc J.-M. Galliere

Fonction : Auteur
PersonId : 4454
IdHAL : jean-marc-galliere
ORCID : 0000-0001-8753-3392
IdRef : 079495613

Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Michel Renovell

Fonction : Auteur
PersonId : 20711
IdHAL : michel-renovell
ORCID : 0000-0002-3896-8231
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Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108659

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-08:52:41

Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07

Dates et versions

lirmm-00108659 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00108659 , version 1

Citer

S. Bernardini, P. Masson, Jean-Michel Portal, Jean-Marc J.-M. Galliere, Michel Renovell. Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror. LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, Spain. pp.12-17. ⟨lirmm-00108659⟩

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