Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, pp.12-17, 2004
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 08:52:41
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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  • HAL Id : lirmm-00108659, version 1

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Citation

S. Bernardini, P. Masson, J.M. Portal, Jean-Marc Galliere, Michel Renovell. Impact of Gate Oxide Reduction Failure on Analog Applications: Example of the Current Mirror. LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2004, Cartagena, pp.12-17, 2004. 〈lirmm-00108659〉

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