On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108832

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-12:56:44

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00108832 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108832 , version 1

Citer

Marie-Lise Flottes, Régis Poirier, Bruno Rouzeyre. On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers. DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Jan 2004, Perth (Australia), pp.275-280. ⟨lirmm-00108832⟩

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