On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers

Type de document :
Communication dans un congrès
DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Jan 2004, Perth (Australia), IEEE Computer Society, pp.275-280, 2004
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:56:44
Dernière modification le : mardi 23 octobre 2018 - 10:46:02

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Marie-Lise Flottes, Régis Poirier, Bruno Rouzeyre. On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers. DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Jan 2004, Perth (Australia), IEEE Computer Society, pp.275-280, 2004. 〈lirmm-00108832〉

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