The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults

P. Engelke I. Polian Michel Renovell 1 B. Seshadri P. Becker
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA (USA), pp.171-178, 2004
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:56:58
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00108845, version 1

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P. Engelke, I. Polian, Michel Renovell, B. Seshadri, P. Becker. The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults. VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA (USA), pp.171-178, 2004. 〈lirmm-00108845〉

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