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Contributeur : Christine Carvalho de Matos
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Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:56:58
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01
P. Engelke, I. Polian, Michel Renovell, B. Seshadri, P. Becker. The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults. VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA (USA), pp.171-178, 2004. 〈lirmm-00108845〉
