An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction

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Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.174-179, 2004, 〈10.1109/ETSYM.2004.1347657〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108901
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:57:11
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:25

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Yannick Bonhomme, Tomohiro Yoneda, Hideo Fujiwara, Patrick Girard. An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.174-179, 2004, 〈10.1109/ETSYM.2004.1347657〉. 〈lirmm-00108901〉

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