User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing

L. Krundel S. Kumar Goel E.J. Marinissen Marie-Lise Flottes 1 Bruno Rouzeyre 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.80-85, 2004, 〈10.1109/ETSYM.2004.1347611〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108903
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:57:12
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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L. Krundel, S. Kumar Goel, E.J. Marinissen, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. User-Constrained Test Architecture Design for Modular SOC Testing. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.80-85, 2004, 〈10.1109/ETSYM.2004.1347611〉. 〈lirmm-00108903〉

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