Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core

Abstract : Scan architectures, though widely used in modern designs for testing purpose, are expensive in test data volume and power consumption.
Type de document :
Communication dans un congrès
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2006, Fukuoka, Japan. 15th IEEE Asian Test Symposium, pp.5-10, 2006
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00116832
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mardi 28 novembre 2006 - 11:41:14
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00116832, version 1

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Citation

Nabil Badereddine, Z. Wang, Patrick Girard, K. Chakrabarty, Arnaud Virazel, et al.. Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core. ATS: Asian Test Symposium, Nov 2006, Fukuoka, Japan. 15th IEEE Asian Test Symposium, pp.5-10, 2006. 〈lirmm-00116832〉

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