Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00116832

Soumis le : mardi 28 novembre 2006-11:41:14

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00116832 , version 1 (28-11-2006)

Identifiants

Citer

Nabil Badereddine, Zhanglei Wang, Patrick Girard, Krishnendu Chakrabarty, Arnaud Virazel, et al.. Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core. ATS 2006 - 15th IEEE Asian Test Symposium, Nov 2006, Fukuoka, Japan. pp.5-10, ⟨10.1109/ATS.2006.66⟩. ⟨lirmm-00116832⟩

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