Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2006

Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christian Landrault  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00134781

Soumis le : lundi 5 mars 2007-13:59:00

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00134781 , version 1 (05-03-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00134781 , version 1

Citer

Christian Landrault, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine, et al.. Structural Power-Aware Assignment of Xs for Peak Power Reduction during Scan Testing. ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006. ⟨lirmm-00134781⟩

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