Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells

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ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006
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Contributeur : Christian Landrault <>
Soumis le : lundi 5 mars 2007 - 14:05:25
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 02:08:12

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  • HAL Id : lirmm-00134787, version 1

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Citation

Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian. Failure Mechanisms due to Process Variations in Nanoscale SRAM Core-Cells. ETS: European Test Symposium, May 2006, Southampton, United Kingdom. 11th IEEE European Test Symposium, 2006. 〈lirmm-00134787〉

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