Ouvrages Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00136926 , version 1 (15-03-2007)

Identifiants

Citer

Patrick Girard, Michel Renovell, Mohamed Masmoudi, Jaouhar Mouine (Dir.). International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS 2006). IEEE, 447 p., 2006, 0-7803-9726-6. ⟨10.1109/DTIS.2006.1708761⟩. ⟨lirmm-00136926⟩
167 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

  • More