Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), IEEE, pp.47-52, 2007
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00151034
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 1 juin 2007 - 14:53:19
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00151034, version 1

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Citation

Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, et al.. Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window. VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), IEEE, pp.47-52, 2007. 〈lirmm-00151034〉

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