Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window

Résumé

N/A

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00151034

Soumis le : vendredi 1 juin 2007-14:53:19

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00151034 , version 1 (01-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00151034 , version 1

Citer

Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, et al.. Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window. VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), pp.47-52. ⟨lirmm-00151034⟩

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