Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise

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Poster
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.59-64, 2007
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 14 juin 2007 - 15:35:14
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00154744, version 1

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Citation

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Michel Renovell. Logic Errors in CMOS Circuits due to Simultaneous Switching Noise. ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.59-64, 2007. 〈lirmm-00154744〉

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