TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction

Abstract : TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction
Type de document :
Poster
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.241-246, 2007
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00159044
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 12 novembre 2007 - 16:50:50
Dernière modification le : mardi 23 octobre 2018 - 10:46:02
Document(s) archivé(s) le : jeudi 8 avril 2010 - 22:14:10

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  • HAL Id : lirmm-00159044, version 1

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Citation

Julien Dalmasso, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. TAM Design and Test Data Compression for SoC Test Cost Reduction. ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.241-246, 2007. 〈lirmm-00159044〉

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