Academic Network for Microelectronic Test Education

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International Journal of Engineering Education, Tempus Publications, 2007, 23 (6), pp.1245-1253. 〈http://www.ijee.dit.ie/contents/c230607.html〉
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Contributeur : Isabelle Gouat <>
Soumis le : mardi 11 décembre 2007 - 11:10:44
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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Franc Novak, Anton Biasizzo, Yves Bertrand, Marie-Lise Flottes, Luz Balado, et al.. Academic Network for Microelectronic Test Education. International Journal of Engineering Education, Tempus Publications, 2007, 23 (6), pp.1245-1253. 〈http://www.ijee.dit.ie/contents/c230607.html〉. 〈lirmm-00195573〉

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