On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00260194

Soumis le : lundi 3 mars 2008-14:49:19

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00260194 , version 1 (03-03-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00260194 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Yves Bertrand, Michel Renovell. On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise. LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Puebla, Mexico, pp.11-16. ⟨lirmm-00260194⟩

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