On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Puebla, Mexico, IEEE, pp.11-16, 2008
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00260194
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 3 mars 2008 - 14:49:19
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00260194, version 1

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Citation

Florence Azaïs, Laurent Larguier, Yves Bertrand, Michel Renovell. On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise. LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Puebla, Mexico, IEEE, pp.11-16, 2008. 〈lirmm-00260194〉

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