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Conference papers

Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test

Ziad Noun 1, 2 Philippe Cauvet 1 Marie-Lise Flottes 3 Serge Bernard 3 David Andreu 2 Jérôme Galy 3
1 Philips France Semiconducteurs
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Keywords : Wafer Test Wireless Production Testing Seal Ring Design
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00260205
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Monday, March 3, 2008 - 3:10:24 PM
Last modification on : Tuesday, January 5, 2021 - 4:00:04 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00260205, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Ziad Noun, Philippe Cauvet, Marie-Lise Flottes, Serge Bernard, David Andreu, et al.. Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test. LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Mar 2008, Puebla, Mexico. pp.165-170. ⟨lirmm-00260205⟩

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