Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Mar 2008, Puebla, Mexico. IEEE, pp.165-170, 2008
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 3 mars 2008 - 15:10:24
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00260205, version 1

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Citation

Ziad Noun, Philippe Cauvet, Marie-Lise Flottes, Serge Bernard, David Andreu, et al.. Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test. LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Mar 2008, Puebla, Mexico. IEEE, pp.165-170, 2008. 〈lirmm-00260205〉

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