Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test

Ziad Noun 1, 2 Philippe Cauvet 1 Marie-Lise Flottes 3 Serge Bernard 3 David Andreu 2 Jérôme Galy 3
1 Philips France Semiconducteurs
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Keywords : Wafer Test Wireless Production Testing Seal Ring Design
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Mar 2008, Puebla, Mexico. IEEE, pp.165-170, 2008
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00260205
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 3 mars 2008 - 15:10:24
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00260205, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Ziad Noun, Philippe Cauvet, Marie-Lise Flottes, Serge Bernard, David Andreu, et al.. Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test. LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, Mar 2008, Puebla, Mexico. IEEE, pp.165-170, 2008. 〈lirmm-00260205〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

130

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD