Evaluation of the Oscillation-Based Test Methodology for Micro-Electro-Mechanical Systems

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'02: 20th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA, pp.439-444, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:29
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00268484, version 1

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Citation

Vincent Beroulle, Yves Bertrand, Laurent Latorre, Pascal Nouet. Evaluation of the Oscillation-Based Test Methodology for Micro-Electro-Mechanical Systems. VTS'02: 20th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA, pp.439-444, 2002. 〈lirmm-00268484〉

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