On Using Efficient Test Sequences for BIST - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002
Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00268499 , version 1 (01-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268499 , version 1

Citer

René M. G. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. On Using Efficient Test Sequences for BIST. VTS: VLSI Test Symposium, 2002, Monterey, CA, United States. pp.145-150. ⟨lirmm-00268499⟩
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