On Using Efficient Test Sequences for BIST

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'02: 20th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA, pp.145-150, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:33
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00268499, version 1

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R. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. On Using Efficient Test Sequences for BIST. VTS'02: 20th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA, pp.145-150, 2002. 〈lirmm-00268499〉

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