Hardware Generation of Random Single Input Change Test Sequence

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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2002, 18 (2), pp.145-157
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:43
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00268540, version 1

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R. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. Hardware Generation of Random Single Input Change Test Sequence. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2002, 18 (2), pp.145-157. 〈lirmm-00268540〉

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