Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits

Patrick Girard 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
IEEE Design & Test of Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 19 (3), pp.82-92
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:54
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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Patrick Girard. Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits. IEEE Design & Test of Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002, 19 (3), pp.82-92. 〈lirmm-00268584〉

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