Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Article Dans Une Revue IEEE Design & Test Année : 2002

Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00268584 , version 1 (01-04-2008)

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Citer

Patrick Girard. Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits. IEEE Design & Test, 2002, 19 (3), pp.82-92. ⟨10.1109/MDT.2002.1003802⟩. ⟨lirmm-00268584⟩
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