Design of an IEEE 1149.4 Test Chip with Extended ABM Functionality

Type de document :
Communication dans un congrès
IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Montreux (Suisse), France. pp. 153-159, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 2 avril 2008 - 16:46:05
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00269340, version 1

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Florence Azaïs, Pascal Nouet, Uroš Kač, Franc Novak. Design of an IEEE 1149.4 Test Chip with Extended ABM Functionality. IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Montreux (Suisse), France. pp. 153-159, 2002. 〈lirmm-00269340〉

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