Designing Testable Analog Filters with Optimal DFT Insertion - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Designing Testable Analog Filters with Optimal DFT Insertion

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269341

Soumis le : mercredi 2 avril 2008-16:46:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00269341 , version 1 (02-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269341 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Yves Bertrand, Jose Vicente Calvano, Marcelo Lubaszewski, Pascal Nouet, et al.. Designing Testable Analog Filters with Optimal DFT Insertion. IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2002, Montreux, Switzerland. pp.201-203. ⟨lirmm-00269341⟩

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