A Ring Architecture Strategy for BIST Test Pattern Generation

C. Fagot 1 Olivier Gascuel 2 Patrick Girard 3 Christian Landrault 1
2 MAB - Méthodes et Algorithmes pour la Bioinformatique
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2003, 19 (3), pp. 223-231
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:40
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269518, version 1

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Citation

C. Fagot, Olivier Gascuel, Patrick Girard, Christian Landrault. A Ring Architecture Strategy for BIST Test Pattern Generation. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2003, 19 (3), pp. 223-231. 〈lirmm-00269518〉

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