A-to-D Converter Static Error Detection from Dynamic Parameter Measurements - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

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Journal Articles Microelectronics Journal Year : 2003

A-to-D Converter Static Error Detection from Dynamic Parameter Measurements

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Florence Azaïs

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Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Serge Bernard

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Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Yves Bertrand

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Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Mariane Comte

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Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Michel Renovell

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Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

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Computer Science [cs]

Christine Carvalho De Matos : Connect in order to contact the contributor

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269601

Submitted on : Thursday, April 3, 2008-8:21:57 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:50 PM

Dates and versions

lirmm-00269601 , version 1 (03-04-2008)

Identifiers

HAL Id : lirmm-00269601 , version 1
DOI : 10.1016/S0026-2692(03)00161-7

Cite

Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Mariane Comte, Michel Renovell. A-to-D Converter Static Error Detection from Dynamic Parameter Measurements. Microelectronics Journal, 2003, 34 (10), pp. 945-953. ⟨10.1016/S0026-2692(03)00161-7⟩. ⟨lirmm-00269601⟩

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