Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2003
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269602
Soumis le : jeudi 3 avril 2008-08:21:57
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50
Citer
Serge Bernard, Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell. On-Chip Generation of Ramp and Triangle-Wave Stimuli for ADC BIST. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2003, 19 (4), pp. 469-479. ⟨10.1023/A:1024652328578⟩. ⟨lirmm-00269602⟩
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