Delay Testing of MOS Transistor with Gate Oxide Short

Michel Renovell 1 Jean-Marc Galliere 1 Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2003, Xian, China. 12th IEEE AsianTest Symposium, pp.168-173, 2003
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269641
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:22:05
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269641, version 1

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Citation

Michel Renovell, Jean-Marc Galliere, Florence Azaïs, Yves Bertrand. Delay Testing of MOS Transistor with Gate Oxide Short. ATS: Asian Test Symposium, Nov 2003, Xian, China. 12th IEEE AsianTest Symposium, pp.168-173, 2003. 〈lirmm-00269641〉

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