Automatic Generation of LH-BIST Architecture for ADC Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Automatic Generation of LH-BIST Architecture for ADC Testing

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269683

Soumis le : jeudi 3 avril 2008-08:22:14

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00269683 , version 1 (03-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269683 , version 1

Citer

Serge Bernard, Florence Azaïs, Mariane Comte, Yves Bertrand, Michel Renovell. Automatic Generation of LH-BIST Architecture for ADC Testing. IWADC'03: IEEE International Workshop on ADC Modelling and Testing, Sep 2003, Perugia, Italy. pp.7-12. ⟨lirmm-00269683⟩

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