13th IEEE European Test Symposium (ETS'08) - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2008

13th IEEE European Test Symposium (ETS'08)

Mots clés

Test

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Patrick Girard  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00326806

Soumis le : lundi 6 octobre 2008-09:24:47

Dernière modification le : jeudi 14 décembre 2023-13:56:06

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00326806 , version 1 (06-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00326806 , version 1

Citer

Patrick Girard, Matteo Sonza Reorda, Zebo Peng, Christian Landrault, Cecilia Metra (Dir.). 13th IEEE European Test Symposium (ETS'08). IEEE Computer Society, pp.250, 2008, 978-0-7695-3150-2. ⟨lirmm-00326806⟩

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