Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test

Résumé : L'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin.
Type de document :
Communication dans un congrès
Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France. pp.86-87, 2000
Liste complète des métadonnées

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Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : mercredi 10 décembre 2008 - 09:41:18
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00345804, version 1

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Citation

Arnaud Virazel, René David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test. Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France. pp.86-87, 2000. 〈lirmm-00345804〉

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