Arnaud Virazel, René M. G. David, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test.
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, LIRMM; CEM2, May 2000, Montpellier, France. pp.86-87.
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