Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test

Arnaud Virazel; René David; Patrick Girard; Christian Landrault; Serge Pravossoudovitch

Conference papers

Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test

Arnaud Virazel ¹ René David ² Patrick Girard ¹ Christian Landrault ³ Serge Pravossoudovitch ¹

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 LAG - Laboratoire d'automatique de Grenoble

3 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Résumé : L'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin.

Document type :

Conference papers

Domain :

Engineering Sciences [physics] / Micro and nanotechnologies/Microelectronics

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Cited literature [9 references] Display Hide Download

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00345804
Contributor : Arnaud Virazel <>
Submitted on : Friday, July 19, 2019 - 7:10:47 PM
Last modification on : Tuesday, July 27, 2021 - 11:20:10 AM

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