Test and Harware Security - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Autre Publication Scientifique Année : 2008

Test and Harware Security

Résumé

This talk higlights the conflicting goal of harware security and harware testing. Some scan and BIST solutions are presented.

Mots clés

Hardware security

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Bruno Rouzeyre  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00365276

Soumis le : lundi 2 mars 2009-18:27:06

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Archivage à long terme le : mardi 8 juin 2010-19:57:41

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Dates et versions

lirmm-00365276 , version 1 (02-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00365276 , version 1

Citer

Marion Doulcier, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Test and Harware Security. 2008. ⟨lirmm-00365276⟩

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