Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Type de document :
Ouvrage (y compris édition critique et traduction)
Springer, pp.353, 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371356
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 27 mars 2009 - 15:25:02
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00371356, version 1

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Patrick Girard, Nicolas Nicolici, Xiaoqing Wen. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices. Springer, pp.353, 2010. 〈lirmm-00371356〉

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