Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2009
Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00371370
Soumis le : vendredi 27 mars 2009-15:50:21
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51
Citer
Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, et al.. A SPICE-Like 2T-FLOTOX Core-Cell Model for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2009, N/A, pp.127-144. ⟨10.1007/s10836-008-5096-9⟩. ⟨lirmm-00371370⟩
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