Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behaviour Prediction in eFlash

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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2009, N/A, pp.127-144
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 27 mars 2009 - 15:50:21
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00371370, version 1

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Citation

Olivier Ginez, Jean-Michel Daga, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, et al.. Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behaviour Prediction in eFlash. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2009, N/A, pp.127-144. 〈lirmm-00371370〉

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