Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems

Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
The Innovative Manufacturing Research Conference, Scottish Manufacturing Institute, France. 2005, 〈http://www.patent-dfmm.org/site/events.htm〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406781
Contributeur : Lionel Torres <>
Soumis le : jeudi 23 juillet 2009 - 14:18:08
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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  • HAL Id : lirmm-00406781, version 1

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Citation

Pascal Nouet. Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems. The Innovative Manufacturing Research Conference, Scottish Manufacturing Institute, France. 2005, 〈http://www.patent-dfmm.org/site/events.htm〉. 〈lirmm-00406781〉

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