Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems

Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, France. 2006, 〈http://cmp.imag.fr/conferences/dtip/DTIP2006/DfMM_Workshop.pdf〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406837
Contributeur : Lionel Torres <>
Soumis le : jeudi 23 juillet 2009 - 15:47:27
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406837, version 1

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SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Pascal Nouet. Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems. Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, France. 2006, 〈http://cmp.imag.fr/conferences/dtip/DTIP2006/DfMM_Workshop.pdf〉. 〈lirmm-00406837〉

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