Remote Labs for Industrial IC Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

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Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Learning Technologies Année : 2009

Remote Labs for Industrial IC Testing

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Béatrice Pradarelli

Fonction : Auteur
PersonId : 1046031

Coordination Nationale de la Formation en Microélectronique

Laurent Latorre

Fonction : Auteur
PersonId : 8585
IdHAL : laurent-latorre
ORCID : 0000-0003-0478-1572
IdRef : 160859581

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Marie-Lise Flottes

Fonction : Auteur
PersonId : 3580
IdHAL : marie-lise-flottes
ORCID : 0000-0002-7231-3976
IdRef : 142992321

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Yves Bertrand

Fonction : Auteur
PersonId : 938340

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Pascal Nouet

Fonction : Auteur
PersonId : 6242
IdHAL : pascal-nouet
ORCID : 0000-0003-2137-2623
IdRef : 079135196

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00435903

Soumis le : mercredi 25 novembre 2009-11:36:34

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Dates et versions

lirmm-00435903 , version 1 (25-11-2009)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00435903 , version 1
DOI : 10.1109/TLT.2009.46

Citer

Béatrice Pradarelli, Laurent Latorre, Marie-Lise Flottes, Yves Bertrand, Pascal Nouet. Remote Labs for Industrial IC Testing. IEEE Transactions on Learning Technologies, 2009, 2 (4), pp.304-311. ⟨10.1109/TLT.2009.46⟩. ⟨lirmm-00435903⟩

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