A Multi-Converter DFT Technique for Complex SIP: Concepts and Validation

Vincent Kerzérho 1 Philippe Cauvet 2 Serge Bernard 1 Florence Azaïs 1 Mariane Comte 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 NXP Semiconductors
Abstract : This paper presents a new technique called “Analog Network of Converters” that allows to test a set of ADCs and DACs embedded in a complex circuit as SiP and SoC. It presents an experimental validation of this new concept that permits to reduce drastically the testing time and requires only a low cost digital ATE.
Keywords : Mixed-signal testing DFT ADC DAC
Type de document :
Communication dans un congrès
ECCTD: European Conference on Circuit Theory and Design, Aug 2009, Antalya, Turkey. IEEE, pp.747-750, 2009, New Trends in A/D Converters Design & Testing. 〈http://ecctd09.dogus.edu.tr/〉
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Contributeur : Mariane Comte <>
Soumis le : mercredi 20 janvier 2010 - 12:05:25
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01
Document(s) archivé(s) le : vendredi 18 juin 2010 - 01:09:39

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Vincent Kerzérho, Philippe Cauvet, Serge Bernard, Florence Azaïs, Mariane Comte, et al.. A Multi-Converter DFT Technique for Complex SIP: Concepts and Validation. ECCTD: European Conference on Circuit Theory and Design, Aug 2009, Antalya, Turkey. IEEE, pp.747-750, 2009, New Trends in A/D Converters Design & Testing. 〈http://ecctd09.dogus.edu.tr/〉. 〈lirmm-00448863〉

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