Ensuring High Testability without Degrading Security - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Ensuring High Testability without Degrading Security

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00480710

Soumis le : mardi 4 mai 2010-17:30:27

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00480710 , version 1 (04-05-2010)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00480710 , version 1

Citer

Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Ensuring High Testability without Degrading Security. DDECS'10: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Vienna, Austria. pp.6. ⟨lirmm-00480710⟩

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