Ensuring High Testability without Degrading Security

Giorgio Di Natale 1 Marie-Lise Flottes 1 Bruno Rouzeyre 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'10: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Vienna, Austria. pp.6, 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00480710
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mardi 4 mai 2010 - 17:30:27
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00480710, version 1

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Citation

Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Ensuring High Testability without Degrading Security. DDECS'10: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Vienna, Austria. pp.6, 2010. 〈lirmm-00480710〉

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