Parallel Test of Identical Cores Using Test Elevators in 3D Circuits

Alberto Bosio 1 Giorgio Di Natale 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Poster
3D-Test: First IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits, Austin, Texas, United States. pp.N/A, 2010, 〈http://3dtest.tttc-events.org〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00537857
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 19 novembre 2010 - 15:29:29
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00537857, version 1

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Citation

Alberto Bosio, Giorgio Di Natale. Parallel Test of Identical Cores Using Test Elevators in 3D Circuits. 3D-Test: First IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits, Austin, Texas, United States. pp.N/A, 2010, 〈http://3dtest.tttc-events.org〉. 〈lirmm-00537857〉

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