Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553612

Soumis le : vendredi 7 janvier 2011-16:31:32

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553612 , version 1 (07-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553612 , version 1

Citer

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells. VTS'10: VLSI Test Symposium, Santa Cruz, CA, United States. pp.75-80. ⟨lirmm-00553612⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
68 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More