Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'10: VLSI Test Symposium, Santa Cruz, CA, United States. IEEE Computer Society Press, pp.75-80, 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 7 janvier 2011 - 16:31:32
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00553612, version 1

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Citation

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Detecting NBTI Induced Failures in SRAM Core-Cells. VTS'10: VLSI Test Symposium, Santa Cruz, CA, United States. IEEE Computer Society Press, pp.75-80, 2010. 〈lirmm-00553612〉

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