Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553930

Soumis le : lundi 10 janvier 2011-11:29:59

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553930 , version 1 (10-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553930 , version 1

Citer

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing. LPonTR: 
Impact of Low-Power design on Test and Reliability, May 2010, Prague, Czech Republic. ⟨lirmm-00553930⟩

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