Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors

Type de document :
Communication dans un congrès
RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. IEEE, 11th, 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 17 février 2011 - 11:21:10
Dernière modification le : mercredi 30 mai 2018 - 09:34:08

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  • HAL Id : lirmm-00566847, version 1

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Citation

Paolo Rech, Jean-Marc Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors. RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. IEEE, 11th, 2010. 〈lirmm-00566847〉

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