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Conference papers

Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors

Paolo Rech 1 Jean-Marc J.-M. Galliere 1 Patrick Girard 2 Frédéric Wrobel 3, 4 Frédéric Saigné 3, 4 Luigi Dilillo 2 
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
4 RADIAC - Radiations et composants
IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00566847
Contributor : Martine Peridier Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, February 17, 2011 - 11:21:10 AM
Last modification on : Tuesday, May 17, 2022 - 2:10:04 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00566847, version 1

Collections

CNRS | IES | SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Paolo Rech, Jean-Marc J.-M. Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors. RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. ⟨lirmm-00566847⟩

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