Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00566847

Soumis le : jeudi 17 février 2011-11:21:10

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00566847 , version 1 (17-02-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00566847 , version 1

Citer

Paolo Rech, Jean-Marc J.-M. Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors. RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. ⟨lirmm-00566847⟩

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