Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors

Paolo Rech 1 Jean-Marc Galliere 1 Patrick Girard 2 Frédéric Wrobel 3 Frédéric Saigné 3 Luigi Dilillo 2
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
Type de document :
Communication dans un congrès
RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. IEEE, 11th, 2010
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00566847
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 17 février 2011 - 11:21:10
Dernière modification le : mercredi 21 mars 2018 - 10:03:14

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00566847, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER | IES

Citation

Paolo Rech, Jean-Marc Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors. RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. IEEE, 11th, 2010. 〈lirmm-00566847〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

56

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD