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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors
Paolo Rech
1
Jean-Marc Galliere
1
Patrick Girard
2
Frédéric Wrobel
3, 4
Frédéric Saigné
3, 4
Luigi Dilillo
2
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Paolo Rech 1
Author
Jean-Marc J.-M. Galliere 1
Author Employer institution : Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier IdHAL : jean-marc-galliere ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8753-3392
Patrick Girard 2
Author IdHAL : patrick-girard-lirmm
Frédéric Wrobel 3, 4
Author IdHAL : frederic-wrobel ORCID : https://orcid.org/0000-0002-2437-1223
Frédéric Saigné 3, 4
Author IdHAL : frederic-saigne
Luigi Dilillo 2
Author IdHAL : luigi-dilillo
1
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
3
IES - Institut d’Electronique et des Systèmes (860, rue Saint Priest, Bâtiment 5 - CC 05001 -34095 Montpellier Cedex 5 - France)
- UM - Université de Montpellier (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5214 (France)
4
RADIAC - Radiations et composants (France)
- IES - Institut d’Electronique et des Systèmes (860, rue Saint Priest, Bâtiment 5 - CC 05001 -34095 Montpellier Cedex 5 - France)
- UM - Université de Montpellier (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5214 (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00566847
Contributor : Martine Peridier Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, February 17, 2011 - 11:21:10 AM
Last modification on : Friday, October 22, 2021 - 3:07:40 PM
Contributor : Martine Peridier Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Thursday, February 17, 2011 - 11:21:10 AM
Last modification on : Friday, October 22, 2021 - 3:07:40 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00566847, version 1
Citation
Paolo Rech, Jean-Marc Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors. RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. ⟨lirmm-00566847⟩
Metrics
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