Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors
Paolo Rech
(1)
,
Jean-Marc J.-M. Galliere
(1)
,
Patrick Girard
(2)
,
Frédéric Wrobel
(3, 4)
,
Frédéric Saigné
(3, 4)
,
Luigi Dilillo
(2)
Paolo Rech
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Jean-Marc J.-M. Galliere
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Patrick Girard
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Frédéric Wrobel
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Frédéric Saigné
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Luigi Dilillo
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