Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00592182

Soumis le : mercredi 11 mai 2011-15:19:36

Dernière modification le : mercredi 13 août 2025-03:09:45

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00592182 , version 1 (11-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00592182 , version 1

Citer

Leonardo B. Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling. DDECS'11: 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Netherlands. pp.353-358. ⟨lirmm-00592182⟩

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