 |
HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
A DfT Solution for Oxide Thickness Varitions in ATMEL eFlash Technology
Pierre-Didier Mauroux
1
Arnaud Virazel
2
Alberto Bosio
2
Luigi Dilillo
2
Patrick Girard
2
Serge Pravossoudovitch
2
Benoît Godard
3
Gilles Feste
3
Laurent Vachez
3
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Pierre-Didier Mauroux 1
Author
Arnaud Virazel 2
Author IdHAL : arnaud-virazel IdRef : https://www.idref.fr/068454724 ISNI : http://isni.org/isni/0000000139422532
Alberto Bosio 2
Author IdHAL : alberto-bosio ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6116-7339
Luigi Dilillo 2
Author IdHAL : luigi-dilillo
Patrick Girard 2
Author IdHAL : patrick-girard-lirmm
Serge Pravossoudovitch 2
Author
Benoît Godard 3
Author
Gilles Feste 3
Author
Laurent Vachez 3
Author
1
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
ATMEL - Atmel Corporation (ATMEL Development Programs Michel Madore ATMEL Rousset Z.I. 13106 Rousset CEDEX - France)
- ATMEL (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00647750
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Friday, December 2, 2011 - 3:43:37 PM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Friday, December 2, 2011 - 3:43:37 PM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00647750, version 1
Citation
Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. A DfT Solution for Oxide Thickness Varitions in ATMEL eFlash Technology. DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2011, Athènes, Greece. ⟨lirmm-00647750⟩
Metrics
Record views