Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme

Type de document :
Communication dans un congrès
LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway. 2011
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00651905
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mercredi 14 décembre 2011 - 14:50:30
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00651905, version 1

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Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme. LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway. 2011. 〈lirmm-00651905〉

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