Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00651905

Soumis le : mercredi 14 décembre 2011-14:50:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00651905 , version 1 (14-12-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00651905 , version 1

Citer

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Mapping Test Power to Functional Power through Smart X-Filling for LOS Scheme. LPonTR'11: IEEE International Workshop on the Impact of Low Power on Test and Reliability, Trondheim, Norway. ⟨lirmm-00651905⟩

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