Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679509

Soumis le : jeudi 15 mars 2012-17:22:09

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00679509 , version 1 (15-03-2012)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679509 , version 1

Citer

Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture. JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Paris, France. ⟨lirmm-00679509⟩

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