Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture

Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Paris, France. 2011
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679509
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2012 - 17:22:09
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679509, version 1

Collections

Citation

Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture. JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Paris, France. 2011. 〈lirmm-00679509〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

82