Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679516

Soumis le : jeudi 15 mars 2012-17:32:17

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00679516 , version 1 (15-03-2012)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679516 , version 1

Citer

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories. GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. ⟨lirmm-00679516⟩

Exporter

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