Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories

João Azevedo Arnaud Virazel 1 Alberto Bosio 1 Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. 2011
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679516
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2012 - 17:32:17
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679516, version 1

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Citation

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Test and Reliability of Magnetic Random Access Memories. GDR SOC-SIP'11: Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. 2011. 〈lirmm-00679516〉

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